Nota TécnicaPublicado
Artefatos causados pelo feixe de íons Ga durante o preparo de amostras de silício no microscópio de íons focalizados (FIB)
Fabio Zuim; André Linhares Rossi
Dados da publicação
- Autores
- Fabio Zuim; André Linhares Rossi
- Tipo
- Nota Técnica
- Status
- Publicado
- Data de publicação
- 03/10/2017
- Ano
- 2017
- Número
- CBPF-NT-007/17
- Vínculo com tese
- Não
- Vínculo com bolsa
- Não