Artigo em revistaPublicado
Grain size distribution analysis in polycrystalline LiF thin films by mathematical morphology techniques on AFM images and X-ray diffraction data
M. Portes de Albuquerque; Cremona,; Mauricio,; Scavarda Do Carmo,; Prioli,; Nunes,; Zanette,; Caride,
2000260 - 267
Dados da publicação
- Autores
- M. Portes de Albuquerque; Cremona,; Mauricio,; Scavarda Do Carmo,; Prioli,; Nunes,; Zanette,; Caride,
- Tipo
- Artigo em revista
- Status
- Publicado
- Data de publicação
- 2000
- Revista
- Journal of Microscopy
- Volume
- 197
- Ano
- 2000
- Páginas
- 260 - 267
- DOI
- http://dx.doi.org/10.1046/j.1365-2818.2000.00661.x
- Âmbito
- Nacional
- Indexada no Science Citation Index
- Não
- Vínculo com tese
- Não
- Vínculo com bolsa
- Não