--- title: "Medidas em Escala Nanométrica de Propriedades Mecânicas e Óticas em Superfícies • CBPF Index" description: "O CBPF INDEX é o sistema de acompanhamento da produção científica e tecnológica do CBPF. Nele é possível obter a lista de publicações de artigos, livros, relatórios técnicos, etc de toda a comunidade do CBPF." canonical_url: "https://index.cbpf.br/publicacoes/6ad2a767639f62b11adbbe6a" locale: pt meta: "og:description": "O CBPF INDEX é o sistema de acompanhamento da produção científica e tecnológica do CBPF. Nele é possível obter a lista de publicações de artigos, livros, relatórios técnicos, etc de toda a comunidade do CBPF." "og:image": "https://index.cbpf.br/_og/d/c_Item%2Ctitulo_~TWVkaWRhcyBlbSBFc2NhbGEgTmFub23DqXRyaWNhIGRlIFByb3ByaWVkYWRlcyBNZWPDom5pY2FzIGUgw5N0aWNhcyBlbSBTdXBlcmbDrWNpZXM%2Ctipo_Tese%2Bde%2Bdoutorado%2Ccor_~IzdhM2E5OQ%2Cautores_~SGFyYWxkIEhlaW56ZWxtYW5uOyBHYWxpbmEgS2xpbWNoaXRza2F5YTsgQS4gUC4gR3VpbWFyw6NlczsgTcOhcmNpbyBQb250ZXMgZGUgQWxidXF1ZXJxdWU7IEx1aXogQy4gU2FtcGFpbw%2Cdetalhe_~MTQvMDgvMTk5OA%2Csecao_~UHVibGljYcOnw7Vlcw%2Cp_Ii9wdWJsaWNhY29lcy82YWQyYTc2NzYzOWY2MmIxMWFkYmJlNmEi%2Cs_k0fPR1Ck1b-oyFdz.png" "og:image:height": "600" "og:image:type": image/png "og:image:width": "1200" "og:title": "Medidas em Escala Nanométrica de Propriedades Mecânicas e Óticas em Superfícies • CBPF Index" "twitter:image": "https://index.cbpf.br/_og/d/c_Item%2Ctitulo_~TWVkaWRhcyBlbSBFc2NhbGEgTmFub23DqXRyaWNhIGRlIFByb3ByaWVkYWRlcyBNZWPDom5pY2FzIGUgw5N0aWNhcyBlbSBTdXBlcmbDrWNpZXM%2Ctipo_Tese%2Bde%2Bdoutorado%2Ccor_~IzdhM2E5OQ%2Cautores_~SGFyYWxkIEhlaW56ZWxtYW5uOyBHYWxpbmEgS2xpbWNoaXRza2F5YTsgQS4gUC4gR3VpbWFyw6NlczsgTcOhcmNpbyBQb250ZXMgZGUgQWxidXF1ZXJxdWU7IEx1aXogQy4gU2FtcGFpbw%2Cdetalhe_~MTQvMDgvMTk5OA%2Csecao_~UHVibGljYcOnw7Vlcw%2Cp_Ii9wdWJsaWNhY29lcy82YWQyYTc2NzYzOWY2MmIxMWFkYmJlNmEi%2Cs_k0fPR1Ck1b-oyFdz.png" --- > Index of every page on this site: [llms.txt](https://index.cbpf.br/llms.txt) **Tese de doutorado****Defendida** # **Medidas em Escala Nanométrica de Propriedades Mecânicas e Óticas em Superfícies** **Harald Heinzelmann; Galina Klimchitskaya; A. P. Guimarães; Márcio Pontes de Albuquerque; Luiz C. Sampaio** 14/08/1998 [**Baixar PDF **1 MB](https://index.cbpf.br/files/publicacao/6ad2a767639f62b11adbbe6a/pdf) [**Contatar responsável**](mailto:biblioteca@cbpf.br?subject=Medidas%20em%20Escala%20Nanom%C3%A9trica%20de%20Propriedades%20Mec%C3%A2nicas%20e%20%C3%93ticas%20em%20Superf%C3%ADcies) ## **Resumo** Neste tese estudamos, com o uso do microscópio de força atômica (AFM), as propriedades topológicas e tribológicas de dois tipos de materiais: filmes de carbono amorfo hidrogenado (a – C(N) : H) com e sem nitrogênio usados como revestimentos protetores e filmes finos de Fluoreto de Lítio (LiF) usados na fabricação de dispositivos optoeletrônicos. Estudamos também a microfluorescência de centros de cor em filmes de LiF com o uso de um microscópio ótico de varredura e campo próximo (SNOM). A Introdução é apresentada no capítulo 1. No capítulo 2 apresentamos a introdução teórica ao microscópio de força atômica e descrevemos os processos físicos envolvidos na formação das imagens de topografia e de força lateral. Uma introdução teórica ao microscópio ótico de campo próximo e varredura, assim como os processos físicos envolvidos na formação das imagens são apresentadas no capítulo 3. No capítulo 4 apresentamos um método de calibração da constante normal dos catilevers de AFM, retangulares e tipo V, comumente utilizados em AFM. No capítulo 5 apresentamos uma comparação dos métodos utilizados para a medida de rugosidade em superfícies e estudamos como os parâmetros de operação do AFM e o processamento de imagens influenciam nas medidas de rugosidade. Os resultados dos efeitos da incorporação de nitrogênio na topografia e no coeficiente de atrito de filmes de a – C(N) : H medidos com o AFM são apresentados e discutidos no capítulo 6 juntamente com os efeitos do tratamento térmico nas propriedades tribológicas e estruturais. No capítulo 7 apresentamos um estudo de AFM sobre a influência da temperatura de deposição de filmes finos de LiF na topografia deles e no tamanho dos grãos da superfície. Os resultados obtidos com o SNOM das medidas de microfluorescência de centros de cor criados por feixe de elétrons em filmes finos de LiF são dados e discutidos no capítulo 8. As conclusões são apresentadas no capítulo 9. ## **Dados da publicação**
Autores
Harald Heinzelmann; Galina Klimchitskaya; A. P. Guimarães; Márcio Pontes de Albuquerque; Luiz C. Sampaio
Tipo
Tese de doutorado
Status
Defendida
Data de publicação
14/08/1998
Instituição
CBPF
Data de defesa
14/08/1998
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