--- title: "Estudo de Filmes finos Ferroelétricos utilizando Microscopia de Força Atômica • CBPF Index" description: "O CBPF INDEX é o sistema de acompanhamento da produção científica e tecnológica do CBPF. Nele é possível obter a lista de publicações de artigos, livros, relatórios técnicos, etc de toda a comunidade do CBPF." canonical_url: "https://index.cbpf.br/publicacoes/6ad2a767639f62b11adbaa3a" locale: pt meta: "og:description": "O CBPF INDEX é o sistema de acompanhamento da produção científica e tecnológica do CBPF. Nele é possível obter a lista de publicações de artigos, livros, relatórios técnicos, etc de toda a comunidade do CBPF." "og:image": "https://index.cbpf.br/_og/d/c_Item%2Ctitulo_~RXN0dWRvIGRlIEZpbG1lcyBmaW5vcyBGZXJyb2Vsw6l0cmljb3MgdXRpbGl6YW5kbyBNaWNyb3Njb3BpYSBkZSBGb3LDp2EgQXTDtG1pY2E%2Ctipo_Tese%2Bde%2Bdoutorado%2Ccor_~IzdhM2E5OQ%2Cautores_V.%2BB.%2BNunes%2Cdetalhe_~MDkvMDYvMjAwNA%2Csecao_~UHVibGljYcOnw7Vlcw%2Cp_Ii9wdWJsaWNhY29lcy82YWQyYTc2NzYzOWY2MmIxMWFkYmFhM2Ei%2Cs_Jr99g5UFU1TWKNH6.png" "og:image:height": "600" "og:image:type": image/png "og:image:width": "1200" "og:title": "Estudo de Filmes finos Ferroelétricos utilizando Microscopia de Força Atômica • CBPF Index" "twitter:image": "https://index.cbpf.br/_og/d/c_Item%2Ctitulo_~RXN0dWRvIGRlIEZpbG1lcyBmaW5vcyBGZXJyb2Vsw6l0cmljb3MgdXRpbGl6YW5kbyBNaWNyb3Njb3BpYSBkZSBGb3LDp2EgQXTDtG1pY2E%2Ctipo_Tese%2Bde%2Bdoutorado%2Ccor_~IzdhM2E5OQ%2Cautores_V.%2BB.%2BNunes%2Cdetalhe_~MDkvMDYvMjAwNA%2Csecao_~UHVibGljYcOnw7Vlcw%2Cp_Ii9wdWJsaWNhY29lcy82YWQyYTc2NzYzOWY2MmIxMWFkYmFhM2Ei%2Cs_Jr99g5UFU1TWKNH6.png" --- > Index of every page on this site: [llms.txt](https://index.cbpf.br/llms.txt) **Tese de doutorado****Defendida** # **Estudo de Filmes finos Ferroelétricos utilizando Microscopia de Força Atômica** **V. B. Nunes** 09/06/2004 [**Baixar PDF **1 MB](https://index.cbpf.br/files/publicacao/6ad2a767639f62b11adbaa3a/pdf) [**Contatar responsável**](mailto:biblioteca@cbpf.br?subject=Estudo%20de%20Filmes%20finos%20Ferroel%C3%A9tricos%20utilizando%20Microscopia%20de%20For%C3%A7a%20At%C3%B4mica) ## **Resumo** Esta tese, sobre filmes finos de materiais ferroelétricos, foi realizada em duas partes distintas. O trabalho experimental começou como o estudo das propriedades de filmes de titanato de bismato (Bi4 Ti3O12 ) e titanato de chumbo (PbTiO3) utilizando microscopia de força atômica (AFM). Foram determidas as formas de crescimemento e a distribuição dos sobre os filmes, em função da temperatura de cristalizaçõ. Esse estudo deu origem à investigação principal da tese concernente a filmes finos ferroelétricos de zirconatos de titanato de chumbo (PZT) e nibalto de lítio (LbNiO3). Foram realizados estudos quantitativoas por microscopia de piezoresposta (PFM) com o propósito de determinar a estrutura superficial de ferroelétricos dos materiais mencionados. Para analizar os resultados obtidos foi aplicado um método com a finalidade de determinar a polarização dos grãos em função do campo elétrico. Foi também realizada uma análise completa do comportamento da polarização em relação á histerese dos mateirais. A parte teórica desta tese é ainda dividida em dois desenvolvimento diferentes. Foi realizada pela primeira vez um método analítico para obter a distribuição de Preisach usando os loops de histerese saturados. O método substitui com vantagens o teorema da representação para o modelo clássico de Preisach – que define o comportamento dos materiais ferroelétricos – no caso em que a função de Preisach possa ser escrita como o produto de duas funções simétricas. Foi também desenvolvido um método para simular o movimento de um cantiliver no mode de um AFMA teoria está em função da frequência de oscilação do cantilever e da elasticidade do sistema ponteir-amostra. O resultado deixa claro que a transição do modo de não-contaato para o modo de tapping depende da camada de contaminação e da dureza da amostra. ## **Dados da publicação**
Autores
V. B. Nunes
Tipo
Tese de doutorado
Status
Defendida
Data de publicação
09/06/2004
Instituição
CBPF
Data de defesa
09/06/2004
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