Nota TécnicaPublicado
Artefatos causados pelo feixe de íons Ga durante o preparo de amostras de silício no microscópio de íons focalizados (FIB)
Fabio Zuim; André Linhares Rossi
Datos de la publicación
- Autores
- Fabio Zuim; André Linhares Rossi
- Tipo
- Nota Técnica
- Estado
- Publicado
- Fecha de publicación
- 03/10/2017
- Año
- 2017
- Número
- CBPF-NT-007/17
- Vínculo con tesis
- No
- Vínculo con beca
- No