Artículo en revistaPublicado
Grain size distribution analysis in polycrystalline LiF thin films by mathematical morphology techniques on AFM images and X-ray diffraction data
M. Portes de Albuquerque; Cremona,; Mauricio,; Scavarda Do Carmo,; Prioli,; Nunes,; Zanette,; Caride,
2000260 - 267
Datos de la publicación
- Autores
- M. Portes de Albuquerque; Cremona,; Mauricio,; Scavarda Do Carmo,; Prioli,; Nunes,; Zanette,; Caride,
- Tipo
- Artículo en revista
- Estado
- Publicado
- Fecha de publicación
- 2000
- Revista
- Journal of Microscopy
- Volumen
- 197
- Año
- 2000
- Páginas
- 260 - 267
- DOI
- http://dx.doi.org/10.1046/j.1365-2818.2000.00661.x
- Ámbito
- Nacional
- Indexada en el Science Citation Index
- No
- Vínculo con tesis
- No
- Vínculo con beca
- No