Technical NotePublished
Artefatos causados pelo feixe de íons Ga durante o preparo de amostras de silício no microscópio de íons focalizados (FIB)
Fabio Zuim; André Linhares Rossi
Publication details
- Authors
- Fabio Zuim; André Linhares Rossi
- Type
- Technical Note
- Status
- Published
- Publication date
- 03/10/2017
- Year
- 2017
- Number
- CBPF-NT-007/17
- Linked to a thesis
- No
- Linked to a grant
- No